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Der kontrollierte Größenwahn Über die Ambivalenz beim Entwerfen Hilde Léon, Marc-Philip Reichwald, Peter-Karsten Schultz, Peter Härtling, Edgar Allan Poe, Heinrich v. Kleist, Peter Piller, Reichwald Schultz, Klaus Behnke, Stephan Berg, Hilde Léon, Friedrich Meschede, Martin Weller

EBSCOhost Academic eBook Collection (North America) Available online

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Format:
Book
Contributor:
Léon, Hilde, Editor.
Reichwald, Marc-Philip, Editor.
Schultz, Peter-Karsten, Editor.
Härtling, Peter, Contributor.
Poe, Edgar Allan, Contributor.
Kleist, Heinrich v., Contributor.
Piller, Peter, Contributor.
Schultz, Reichwald, Designer.
Behnke, Klaus, Contributor.
Berg, Stephan, Contributor.
Léon, Hilde, Contributor.
Meschede, Friedrich, Contributor.
Weller, Martin, Contributor.
Universität Hannover. Institut für Entwerfen und Gebäudelehre.
Series:
E-Books
E-Books ; v.1
Language:
German
Subjects (All):
Architektur.
Entwürfe.
Experimentierfreude.
Geschichte.
Größenwahn.
Kunst.
Musik.
Psychologie.
Sammelband.
Selbstüberschätzung.
Local Subjects:
Architektur.
Entwürfe.
Experimentierfreude.
Geschichte.
Größenwahn.
Kunst.
Musik.
Psychologie.
Sammelband.
Selbstüberschätzung.
Physical Description:
1 online resource (240 pages)
Edition:
1st ed.
Place of Publication:
Berlin Hatje Cantz Verlag 2024
Summary:
Experimentierfreude und Disziplin, Neugier und Routine, Selbstüberschätzung und Selbstreflexion sind Grundlage und Triebfeder des kreativen Schaffens. Nicht der geniale Einfall oder bloßer Fleiß, sondern stetes Suchen, Finden und Erfinden im interdiszipli
Contents:
Front Cover Impressum Titelseite Inhalt MAGAZIN PFLICHTLEKTÜRE FESTLICHETAGENEUERMUSIK DAS ÜBERDEHNTE JAHRHUNDERT 1. VORLESUNG DIE SPANNE ZWISCHEN FINDEN UND ERFINDEN HALBE MEILE ARCHITECTURAL GUERILLA APPENDIX NEXTLIEGEND Back Cover
ISBN:
3-7757-5769-4
3-7757-3222-5
OCLC:
1202469972
Publisher Number:
9783775757690

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